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LEIPS

LEIPS(低エネルギー逆光電子分光法)
Low-Energy Inverse Photoemission Spectroscopy

目次

LEIPS装置紹介
  1. LEIPS
  2. LEIPSとは
  3. LEIPSの計測基本構成
  4. LE-1の特徴
お問い合わせ


LEIPS装置紹介

1. LEIPS(低エネルギー逆光電子分光法:Low-Energy Inverse Photoemission Spectroscopy)

HOMO and LUMO
2012年に京都大学化学研究所の吉田弘幸博士(現千葉大学教授)が新しく開発した低エネルギー逆光電子分光法LEIPS(Low-Energy Inverse Photoemission Spectroscopy)により、世界で初めて直接的に高精度なLUMO準位測定が可能となりました。

当社は京都大学(株式会社関西TLO)との間で知的財産に対しての「実施許諾契約」を締結し、製品化いたしました。

参考文献:[1]H.Yoshida,Chem.Phys.Lett.539-540,180(2012)

LEIPS外観

LEIPS装置外観


2. LEIPSとは

LEIPSは原理的には逆光電子分光IPES(Inverse Photoemission Spectroscopy)を基礎としています。
IPESは試料基板に電子線を照射し、LUMO準位に緩和する際に発光する極微弱光を測定する手法を基礎としているため、LUMO準位を直接的に測定する有効手段ですが試料損傷と光の測定精度(感度・分解能)が低い問題がありました。
LEIPSの特徴は
IPESとLEIPS比較


3. LEIPSの計測基本構成

LEIPSの計測基本構成



4. LE-1の特徴

LEIPS 特徴 1

LEIPS 特徴 2
※標準構成は改良のため予告なく変更する場合があります。





お問い合わせ
LEIPSに関しましては下記担当者宛てにお気軽にお問い合わせください。


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